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单轴晶体光轴定向检测仪

所属栏目：光学检测

发布时间：2023-10-05

关注度：153次

简单介绍：用主要应用于电光晶体或者接近垂直光轴切割的单轴晶体光轴方向的定量检测，切割角度较小的单轴晶体加工生产切割、粗抛、精抛各个环节及成品元件的光轴定轴测量。

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电光晶体元件：	≤0.1mrad
单轴晶体切割阶段：	优于1°；
粗抛阶段：	优于10′
精抛阶段：	优于1′

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