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多通道大量程x光能谱仪

所属栏目:精密诊断

发布时间:2023-10-05

关注度:216次

简单介绍:多通道大量程X光能谱仪可以用来分析材料的元素组成和结构,它通过测量材料样品受到X射线激发后所发射出的特征性X光谱线,从而确定样品中存在的元素种类和含量。同时,它还可以通过分析X射线的散射和吸收等现象,揭示材料的晶体结构、晶格参数和表面形貌等信息。这使得多通道大量程X光能谱仪在材料科学、化学分析、地质学和环境监测等领域具有广泛的应用。

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测谱方式:石英弯晶衍射+滤片衰减

 共3个测谱通道(低能+中能+高能)

 低能通道,石英弯晶(晶体曲率110mm),测量范围(8-40)kev;

 中能通道,石英弯品(品体曲率350mm),测量范围(17-100)keV;

 高能通道,采用14层金属滤片(Ti、Cu、Mo、Ag、Ta、Pb、W等),测量范围(30-3000)kev;

 采用成像板(BAS MS型)记录

*可视化处理软件

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